SHRIMP IIe和SHRIMP V

灵敏高分辨率离子微探针(SHRIMP)IIe是高精度二次离子质谱仪(SIMS)。离子微探针通过用通常使用科勒聚焦的直径为几微米的离子束轰击样品来对固体靶进行原位同位素和化学“表面”分析。 SHRIMP IIe的高质量分辨率通过使用双聚焦质谱仪(同步能量和质量重聚焦)实现,其具有非常大的磁体和静电分析仪的转向半径。 SHRIMP具有许多应用:在铜 - 铀 - 金 - 银沉积物中的锆石年代学,在形成金属矿石的硫化物矿物中的硫的铀 - 铅日期,在巨型基底金属矿体中的硫的同位素组成。

通过添加可选的铯枪而不是标准双光子,SHRIMP IIe在氧气和其他稳定同位素的分析方面表现优异。非导电样品的分析由用于电荷中和的可选电子枪辅助。
SHRIMP IV是由Trevor Ireland教授在ANU建造的SHRIMP SI离子微探针的商业版本,用于正模式地球年代学和负模式稳定同位素分析。